FT 160 Kaplama Kalınlık Ölçüm Cihazı

Hitachi FT 160 polikapileri x-ışını odaklama optik sistemi ve silikon drift detektör (SDD) ile donatılmış, elektronik parça ölçümlerinde yüksek hassasiyet ve nano seviyede kesin sonuç alabileceğiniz kaplama kalınlık ölçümlerine olanak sağlar. Yüksek hassasiyette ölçümlerini, 30 μm çapındaki alandan dahi yüksek ışınımlı birincil x-ışını saçılımıyla yapabilir.

Numuneler için farklı kabin tiplerine sahip üç modeli bulunmaktadır:

  • FT160 – Parçaların ve bordların ölçümü için standart konfigürasyon.  
  • FT160S – Daha geniş olan konfigürasyonlarla aynı performansta, küçük parçaların ölçümü için tasarlanan kompakt dizayn. 
  • FT160L – PCB’ler için daha geniş numune tablası (600 x 600 mm’ye kadar).
Ürün Broşürü