X-MET 8000 Optimum, Portatif XRF KKÖ Cihazı

X-MET 8000 Optimum modeli , XRF spektrometreleri konusunda uzman Hitachi şirketinin ürettiği sahada kimyasal analiz ve kaplama kalınlığı ölçümü imkanı sağlayan portatif XRF cihazıdır. Cihaz SDD detektöre sahiptir. Portatif olduğu için numune almanıza gerek kalmadan sahada doğrudan malzemeniz üzerinden kaplama kalınlığı ölçümü yapabilmenizi sağlar. Sadece tek katlı kaplamalarda 0-50 mikron aralığındaki kaplamalarda güvenle kullanılabilir. Opsiyonel olarak eklenebilecek bir kolimatör ve kamera sistemi sayesinde 0.3 mm çapa kadar olan yüzeylerden okuma yapabilmenizi sağlar. Zn/Fe (galvaniz kaplama), Ni/Fe, ZnNi/Fe, Ag/Cu, Sn/Cu gibi pek çok çeşitli kaplamada kullanılabilir. Ölçümler 5 saniyeden kısa bir sürede yapabilmektedir. X-ışını flüoresans yöntemiyle çalışan spektrometre IP 54 standardına sahiptir. Cihaz 1600 alaşım standardından oluşan kütüphanesi ve küçük kompakt tasarımıyla eşsizdir. Cihaz 100.000'in üzerinde analizi hafızasında tutabilme ve ister Excel, isterse özel PDF formatında raporlama yapabilme özelliğine sahiptir. Otomotiv, elektrik elektronik, araştırma geliştirme, kuyumculuk gibi pek çok farklı sektör ve uygulamada kullanılabilir.